UpIR™ выполнен в виде высокого прибора с поверхностью отбора проб над плоскостью спектрометра и используется путем размещения больших твердых образцов лицевой стороной вниз на верхнюю пластину прибора. В случае порошкообразных или мелких твердых частиц они могут быть помещены в подходящую пробоотборную чашку в верхней части UpIR™. Эта конструкция уникально подходит для анализа покрытий в средней части ИК-спектра на металлических поверхностях больших или малых образцов. Для этого применения, анализ быстр и легок, потому что никакая подготовка образца или очистка не нужна.
• Конструкция вне отсека для анализа больших образцов.
• Направленная вверх оптика обеспечивает легкий анализ образцов, помещенных лицевой стороной вниз.
• Предварительно выверенные, фиксированные по положению оптические составляющие для воспроизводимых, высококачественных данных.